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| QVI VIEW Summit 系列影像測量儀 |
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VIEW Summit 系統專為需要大工作范圍和高精度的組件而設計。基于與VIEW Pinnacle相同的光學、高速線性電機和高分辨率光柵尺的核心技術，Summit采用固定橋設計。獨立的 X 軸和 Y 軸運動系統可確保既不會影響另一個的機械完整性，同時還能輕松裝卸大型零件。
VIEW Summit 提供三種行程范圍，非常適合測量大尺寸零件，例如 PCB、模板、平板顯示器、蝕刻片和標記圖案，或嵌套的小零件組。 Summit 為車間流程監控和質量保證應用提供了非常高的準確性和高速性。
特征
Summit 系統非常適合測量需要高精度的大幅面零件，例如焊膏模板和絲網、藝術品、面板印刷電路板、柔性電路和微蝕刻零件。
Summit 型號可配備可選的直通鏡頭或偏移安裝的激光器，以增加 Z 軸測量的靈活性。 Summit 型號還可以利用可選的 SpectraProbe? 提供亞微米 Z 軸測量分辨率。
蘇公網安備：