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| QVI VIEW Pinnacle 250 影像測量儀 |
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Pinnacle 250 提供高的精度和快速的 VIEW 系列速度。其高性能和緊湊的占地面積使其成為 VIEW 最受歡迎的型號。
Pinnacle 采用阻尼花崗巖底座和立柱，具有被動隔振功能。帶有高速線性電機驅動器的精密復合 XY 平臺可提供 400 毫米/秒的速度和 1000 毫米/秒的加速度。這種高加速度和高速度的結合實現了近線過程監控所需的高吞吐量。 Pinnacle 堅固而緊湊的設計使其適合安裝在 Q/A 實驗室或生產線的檢測站。
特征
Pinnacle 非常適合測量小型、緊公差零件，尤其是具有高密度特征的零件，例如硬盤驅動器懸架、打印機頭、精密沖壓件、引線框架、球柵陣列和芯片級封裝。
Pinnacle 可以配備可選的直通鏡頭或偏移安裝的激光器，以增加 Z 軸測量的靈活性。 Pinnacle 型號還可以利用可選的 SpectraProbe? 提供亞微米 Z 軸測量分辨率。
蘇公網安備：